X熒光光譜儀是一款全新開(kāi)發(fā)研制的集RoHS指令/鹵素指令/八大重金屬指令一體的光譜儀。集準(zhǔn)確、快速、無(wú)損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用分析儀器行業(yè)先進(jìn)的極速探測(cè)器技術(shù)（SDD）可將測(cè)試時(shí)間降低到1秒?？蓪?shí)現(xiàn)圖像聯(lián)動(dòng)控制，多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試。新增加電動(dòng)開(kāi)發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設(shè)計(jì)自動(dòng)樣品平臺(tái)讓準(zhǔn)確檢測(cè)得到保證。

　　該技術(shù)的主要特征為：利用低能X光激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、S、AI、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果，并且測(cè)試時(shí)間短，提高了效率；采用UHRD探測(cè)器，具有良好的能量線(xiàn)性和能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；采用自動(dòng)穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的一致性；利用解譜技術(shù)使譜峰分解，使采用UHRD探測(cè)器的分析儀對(duì)Si、S、AI等輕元素的測(cè)試具有和的分析精度；采用相似自動(dòng)分類(lèi)技術(shù)使分類(lèi)更準(zhǔn)確，有效地克服基效應(yīng)對(duì)測(cè)量帶來(lái)的影響；X熒光光譜儀采用多參數(shù)的線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的消除。

　　X熒光光譜儀的優(yōu)點(diǎn)：

　　1.分析速度快。測(cè)定用時(shí)與測(cè)定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測(cè)完樣品中的全部待測(cè)元素。

　　2.X射線(xiàn)熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒(méi)有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測(cè)定中卻可看到有波長(zhǎng)變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線(xiàn)范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長(zhǎng)變化用于化學(xué)位的測(cè)定。

　　3.非破壞分析。在X熒光光譜儀測(cè)定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測(cè)量，結(jié)果重現(xiàn)性好。

　　4.X射線(xiàn)熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。

　　5.分析精密度高。

　　6.制樣簡(jiǎn)單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。X熒光光譜儀適用于工廠來(lái)料及制程控制中的有害物質(zhì)檢測(cè)，鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cr)、鉻(Cd)、溴(Br)、氯(Cl)控制的利器。無(wú)損檢測(cè)，可對(duì)電子電氣設(shè)備，玩具指令中的有害物質(zhì)進(jìn)行定性定量分析。